随着主流市场即将演进到SuperSpeed USB，许多设计团队正力图加快设计认证。本文将为您提供专家建议参考，帮助您轻松完成这一过程。
尽管市场上已经出现了早期的USB 3.0产品，但主流市场转向Super Speed USB 还有待时日。部分原因在于，USB 2.0接口无所不在，且生产成本低廉。高带宽设备（如摄像机和存储设备）已经率先演进到SuperSpeed USB。但就目前而言，基于成本因素考虑，USB3.0实施仍限于较高端的产品。
大规模部署任何新的行业标准（包括USB3.0）都存在内在挑战。此外，USB2.0到USB 3.0并非简单的跳跃，其性能提高了十倍之多。尽管性能得到大幅度提升，但消费者对低成本互连设备的预期并没有改变。这就给工程师们带来了明显的压力，需要在一个原本速度很低的信号通道上传输高速率信号，同时要在各种条件下保证可靠性、互操作能力和高性能。为保证物理层（PHY）一致性和认证，测试变得空前关键或重要。
USB 3.0拥有许多其它高速串行技术（如PCI Express和串行ATA）共有的特点：8b/10b编码，明显的通道衰减，扩频时钟。本文将介绍一致性测试方法及怎样对发射机、接收机及线缆和互连进行最精确的、可重复的测量。在掌握了这些窍门之后，您便可以更有效地准备SuperSpeed PIL（Platform Integration Lab）之行了。
High Speed Vs. SuperSpeed
USB 3.0满足了市场对于更高带宽下实时体验应用的需求。目前USB设备达数十亿，因而USB 3.0也提供了向下兼容能力，支持传统USB 2.0设备。然而，USB 2.0和3.0在物理层有多种差异 （表1）。
表1. USB 2.0 和 SuperSpeed USB物理层区别
SuperSpeed USB一致性测试已经有明显变化，以适应更高速接口带来的新挑战。USB 2.0接收机验证需要执行接收机灵敏度测试。USB 2.0设备必须对150 mV及以上的测试包做出响应，并且忽略100 mV以下的信号。
SuperSpeed USB接收机必须面对更多的信号损伤，因此测试要求要比USB 2.0更加苛刻。设计人员还必须考虑传输线效应，在发射机中使用均衡技术（包括去加重），在接收机中使用连续时间线性均衡技术（CTLE）。此外，现在还要求在接收机上进行抖动容限测试，使用扩频时钟（SSC）和异步参考时钟可能会导致互操作能力问题。
评估USB 3.0串行数据链路另一个重要部分是被测波形与互连通道的联系非常复杂。不能再认为只要发射机输出满足了眼图模板，电路就一定能在传输损耗满足要求的通道中正常工作。想了解发射机余量一定时的最差的传输通道，您需要在一致性测试要求以外建立通道和线缆组合模型，使用通道建模软件，分析通道效应 （图1）。
图1. 软件工具，可以针对参考测试通道分析USB 3.0 通道效应。
