史密斯英特康推出新的高频测试插座Joule 20

史密斯英特康 中字

全球领先的半导体测试插座和测试应用解决方案供应商史密斯英特康今天宣布推出其应用于外围IC测试的Joule 20高频测试插座。

当前随着5G等高速通讯标准的升级,新的RF芯片广泛应用于手机,平板,可穿戴设备,无人驾驶汽车等移动设备,对RF射频测试插座的需求越来越多,标准也越来越高。Joule 20出色的接触技术和高频能力有效的保证了信号传输的可靠性和完整性。此外,其创新的设计结构可允许拆卸测试插座外壳而无需将其从PCB板上卸下,在设备测试期间仍然可进行清洁和维护工作,从而大大减少了设备停机时间并提高了测试产量。

(企业供图)

Joule 20射频测试插座还有哪些显著的机械和电气差异优势:

·插入插槽,匹配现有的PCB插槽尺寸

·极短的信号路径,可提供高达20 GHz的高带宽

·芯片和PCB之间的接触电阻非常低,从而提高了测试良率

·高频能力确保信号完整性和可靠性

·散热能力支持从-40°C到+125°C

·接触寿命长,最多插拔次数可达到500,000次

“近年来数字时代的加速发展,对新的消费电子产品以及自动驾驶汽车产生了巨大的需求。集成电路的速度变得越来越快,功能越来越复杂,这就要求更高的测试可靠性和更少的测试时间以将产品快速推出市场。” 史密斯英特康半导体测试业务部副总裁兼总经理Bruce Valentine说。 “史密斯英特康的研发脚步也不敢懈怠,Joule 20射频测试插座的解决方案可以大大提高测试生产量以及满足对外围封装技术(QFN,QFP和SOIC)更快,更可靠且可重复的测试需求。”

想要了解更多产品信息,欢迎和我们的当地销售联系。

声明: 本文系OFweek根据授权转载自其它媒体或授权刊载,目的在于信息传递,并不代表本站赞同其观点和对其真实性负责,如有新闻稿件和图片作品的内容、版权以及其它问题的,请联系我们。
侵权投诉

下载OFweek,一手掌握高科技全行业资讯

还不是OFweek会员,马上注册
打开app,查看更多精彩资讯 >
  • 长按识别二维码
  • 进入OFweek阅读全文
长按图片进行保存