65W1C氮化镓PD快充电源650VMTC-MGZ31N65芯片测试报告

工采网电子元件
关注

现如今支持PD快充协议的移动设备越来越多;而GaN氮化镓技术的出现,则让充电头在保持大功率输出的同时体积也有了显著的改善,无论是出行携带还是日常使用都十分合适。本文内容由工采网代理的GaN/氮化镓 - MGZ31N65测试PD-65W1C快充電源-使用MTC-650V Cascode D-GaN报告

65W氮化镓PD快充电源650VMTC-MGZ31N65测试报告

本报告内容包括65W1C电气规格、线路图、BOM、主变压器设计参数、线路布局,最后是效能量测及EMI测试结果。

GaN/氮化镓 - MGZ31N65内置驱动器以及复杂的逻辑控制电路,170mΩ导阻,耐压650V,支持2MHz开关频率,采用8*8mm QFN封装,节省面积。

1、650V, 6.5A, RDS (on)(typ.)= 250mΩ@VGS = 8V

2、非常低的QRR

3、减少交叉损失

4、符合RoHS标准和无卤素要求的包装

65W氮化镓PD快充电源650VMTC-MGZ31N65测试报告

本电源模组是65W单一C介面,其输出电压由协议IC可以控制5V/3A, 9V/3A, 15V/3A, 20V/3.25A等电压输出,使用QR/DCM反驰式电路架构于输出20V重载时可达93%效率及功率密度可达1.5W/cm3,本系统采用同系列控制单晶片:QR 一 次侧控制IC驱动MTC D-mode GaN FET(MGZ31N65-650V)、二次侧同步整流控制IC及PD3.0协议IC)可达到最佳匹配。

65W氮化镓PD快充电源650VMTC-MGZ31N65测试报告

为了符合CISPR22B/EN55022的标準,需设计合适的滤波电路,例如共模电感(LM1/LM2)、X电容(CX1)、Y电容(CY1)、滤波电感(L1)且配合电流最佳回路达到最好的EMI效果,EMI小板设计主要是降低电磁干扰。

USB PD3.0 (协议小板)

协议小板主要是采用协议晶片SC2151A设计,其由受电端发出电压需求给协议IC后,控制主板改变输出电压,本协议必需符合 PD3.0之协议。

本协议晶片支持:

1、支援 DFP / UFP / DRP USB PD 3.0

2、内键PD 3.0协议

采用GaN/氮化镓 - MTC-65W1C的优势:

★返驰式穀底侦测减少开关损失

★轻载Burst Mode增加效率

★最佳效能可达93%

★空载损耗低于50mW

★控制IC可支持频率高达160 kHz

★系统频率有Jitter降低EMI干扰

★控制IC可直接驱动GaN

★进阶保护功能如下:

(1) VDD过电压及欠电压保护

(2) 导通时最大峰值电流保护

(3) 输出过电压保护

(4) 输出短路保护

 ★可输出65W功率

可应用市场:电源适配器、LED照明驱动器、LCD显示器电源、带充电介面排槽

主要电气规格:(测试温度:环温25°C)

65W氮化镓PD快充电源650VMTC-MGZ31N65测试报告

输出电压:

65W氮化镓PD快充电源650VMTC-MGZ31N65测试报告

应用电路图:

65W氮化镓PD快充电源650VMTC-MGZ31N65测试报告

輻射EMI量測 (CISPR22 Class B/EN55022):Horizontal/Vertical

65W1C氮化镓PD快充电源650VMTC-MGZ31N65测试报告

65W1C氮化镓PD快充电源650VMTC-MGZ31N65测试报告

65W1C氮化镓PD快充电源650VMTC-MGZ31N65测试报告

目前市面上大部分的氮化镓充电器的充电功率主要集中在65W功率段,而1C1A双USB接口的配置也是符合当前大部分用户的使用习惯,也被称为万金油接口,一个接口充笔电一个充手机。65W氮化镓可以解决包括MacBook Pro等绝大多数办公本的用电需求,1C1A双充电接口可以同时为笔电和手机进行充电,而且均为快充。

由于普遍应用程序的耗电速度加快,使得快充需求越发紧张,在电池能耗难于根本解决的情况下,对于电池充电的效率要求就越大,而目前较为合适的大功率充电器方案,当属GaN氮化镓充电器方案。

氮化镓充电器方案当中又数65w氮化镓充电器1A1C输出pd快充方案的需求更急迫。由工采网代理台湾美禄推出的一款基于GaN氮化镓MGZ31N65能够快速部署65w氮化镓充电器产品,适合做1A1C或者单C输出的65w氮化镓充电器方案。台湾美禄在GaN/氮化镓领域颇有建树,技术以及产品方面已经很完善,如果想了解更多GaN/氮化镓的技术资料,欢迎致电联系:19168597394(微信同号)

       原文标题 : 65W1C氮化镓PD快充电源650VMTC-MGZ31N65芯片测试报告

声明: 本文由入驻OFweek维科号的作者撰写,观点仅代表作者本人,不代表OFweek立场。如有侵权或其他问题,请联系举报。
侵权投诉

下载OFweek,一手掌握高科技全行业资讯

还不是OFweek会员,马上注册
打开app,查看更多精彩资讯 >
  • 长按识别二维码
  • 进入OFweek阅读全文
长按图片进行保存