全球半导体产业格局变幻莫测，对测试测量的的需求正在发生深刻变化。基于在数字源表SMU领域独特的技术优势，武汉普赛斯仪表有限公司研制推出了SPA6100半导体参数分析仪，旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发。
智能化软件
内置常用器件模板，如二极管、三极管、MOSFET。测试过程中，可直接调用，只需简单设置测试参数即可。软件支持测试数据显示，以及曲线绘制。
定制化夹具
针对市面上不同封装类型的半导体器件产品，普赛斯提供整套夹具解决方案。也可与探针台连接，实现晶圆级芯片测试。
